產(chǎn)品信息
特長
堅持高精度測量
● 可即時測量絕對量子效率(絕對量子產(chǎn)率)
● 可去除再激發(fā)熒光發(fā)射
● 采用積分半球單元,實現(xiàn)明亮的光學系統(tǒng)。
● 低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區(qū)的雜散光
堅持簡單的操作
● 使用專用軟件輕松操作
● 易于安裝/拆卸樣品測量池
● 節(jié)省空間且緊湊的設計
● 可以使用分光型激發(fā)光源選擇任意波長。
● 通過在軟件上指定激發(fā)波長的波長和步長值,可以進行自動測量。
堅持多功能
● 與粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜樣品兼容
● 豐富的分析功能
● 量子效率(量子產(chǎn)率)測量
● 激發(fā)波長相關(guān)性測量
● 發(fā)射光譜測量
● PL激發(fā)光譜測量
● EEM(激發(fā)發(fā)射矩陣)測量
用法
LED 和有機 EL 熒光粉的量子效率(量子產(chǎn)率)測量薄膜狀
樣品的透射熒光/反射熒光的量子效率(量子產(chǎn)率)測量-遠程熒光粉等的熒光樣品
量子點、熒光探針、生物場、包合物等的熒光測量。
染料敏化太陽能電池的量子效率(量子產(chǎn)率)測量
復雜化合物的測量
高精度的原因
1. 具有積分半球的理想光學系統(tǒng)
QE-2000 配備有積分半球。與積分球(全局)相比,積分球具有以下特點。
由于非發(fā)光部分(支架等)可以暴露在外面,所以可以保持很小的自吸收,并且可以實現(xiàn)理想的光學系統(tǒng)。
反射鏡使同一點的照度增加一倍,從而實現(xiàn)高靈敏度測量。
樣品測量池可以輕松安裝和拆卸,并且?guī)缀鯖]有損壞積分球內(nèi)部的風險。
2.通過再激發(fā)熒光校正功能觀察“真實物性值”
在包括再激發(fā)熒光發(fā)射的狀態(tài)下,觀察包括器件的特性,而不是對材料本身物性的觀察,無法得到真實的物性值。QE-2000 可以通過利用積分半球的再激發(fā)熒光校正進行簡單而準確的測量。
3.低雜散光多通道光譜檢測器減少紫外區(qū)雜散光
使用傳統(tǒng)檢測器(多色儀)時,紫外區(qū)域的雜散光以高水平檢測,因此不適合測量量子效率(量子產(chǎn)率)。大冢電子通過開發(fā)消除雜散光的技術(shù)解決了這個問題。安裝在 QE-2000 上的多通道分光檢測器的雜散光強度約為我們傳統(tǒng)產(chǎn)品的 1/5,即使在紫外線區(qū)域也能實現(xiàn)高精度測量。
原理
量子效率(量子產(chǎn)率)測量概念
參考和樣品激發(fā)光、熒光光譜測量示例
規(guī)格
型號 | 3683C | 311C | 2585C | 3095C | ||||
測量波長范圍 | 360-830nm | 360~1100nm | 250~850nm | 300-950nm | ||||
像素分辨率 | 1.0nm | 0.5nm | 1.6nm | 0.8nm | 1.4nm | 0.7nm | 1.4nm | 0.7nm |
受光素子ch數(shù) | 512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch |
素子 | 電子冷卻型 CCD 圖像傳感器 | |||||||
AD分辨率 | 16bit | |||||||
分光器光學配置 | 平場型 F=3、f=85.8mm | |||||||
激發(fā)光源 | ||||||||
光源 | 150W 氙燈 | |||||||
激發(fā)波長 | 250~800nm | |||||||
帶寬 | FWHM 5nm / Slit 0.6mm | |||||||
防止樣品光劣化 | 自動快門 | |||||||
激發(fā)波長控制 | 自動控制 | |||||||
積分球 | ||||||||
材質(zhì) | Spectron | |||||||
尺寸 | Ф150mm半球(HalfMoon) | |||||||
樣品架 | ||||||||
粉體測量用 | SUS304制、無石英蓋板 | |||||||
溶液測量用(常溫) | 石英制溶液樣品池(開放型) | |||||||
UTT | ||||||||
供電壓 | AC100~120V/AC 200~230V | |||||||
軟件 | ||||||||
量子効率(量子產(chǎn)率)測量 量子効率(量子產(chǎn)率)的激發(fā)波長依存特性 反射光譜測量 PL激發(fā)光譜 顯示EEM(Excitation Emission Matrix) | 再次激發(fā)校準 發(fā)光光譜測量 透過·吸收光譜測量 色演算(色度、色溫度、演色性等) |
選項
自動進樣器
樣品架 (
1) 用于粉末測量 SUS304 材質(zhì),帶石英蓋 (
2) 用于薄膜測量 用于透射測量的樣品架
軟件
直觀且易于使用的專用軟件。只需設置樣品測量池,即可輕松測量量子效率(量子產(chǎn)率)、激發(fā)光譜等。
測量示例
粉末樣品的測量
BAM 多重激勵的測量示例
當激發(fā)波長發(fā)生變化時,量子效率(量子產(chǎn)率)發(fā)生變化。下圖顯示了 BAM(粉末)的量子效率(量子產(chǎn)率)和反射率的激發(fā)波長依賴性。(BAM = BaMgAl10O17: Eu) ● 藍色(左刻度):再激發(fā)校正后的內(nèi)量子效率(內(nèi)量子產(chǎn)率) ■ 紅色(右刻度):每個激發(fā)波長的反射率 從該圖中,在 BAM 的情況下可以可見,隨著激發(fā)光接近可見光區(qū),吸收率降低,即反射率增加。
溶液樣品的測量
熒光素激發(fā)光譜的測定
激發(fā)光譜是指示熒光強度在哪個激發(fā)波長下最大化的光譜。右圖顯示了熒光素(藍色)的激發(fā)光譜和激發(fā)波長(493 nm)處熒光強度最大的熒光光譜(綠色)。
熒光素內(nèi)部量子效率的測量(內(nèi)部量子產(chǎn)率)
右圖為熒光素溶液在493 nm激發(fā)波長下的熒光光譜(包括激發(fā)光)。內(nèi)量子效率(內(nèi)量子產(chǎn)率)為0.903(濃度6.43 x 10-6 mol/L),相當于文獻值0.921)。1) G. Weber 和 FWJ Teale,Trans Faraday Soc 53, 646 (1957)
測量量子點的內(nèi)量子效率(內(nèi)量子產(chǎn)率)
量子點作為可以通過改變其組成和內(nèi)部結(jié)構(gòu)來調(diào)整其光學特性的材料而備受關(guān)注。量子點的激發(fā)光譜和激發(fā)波長為370 nm的熒光光譜如下圖所示。
QE-2100
測量單元、檢測單元、光源單元為獨立類型
除標準功能外,還可根據(jù)應用進行擴展。
量子效率測光系統(tǒng)(分體式)QE-2100
特殊長度
溫度控制功能(50-300°C)可實現(xiàn)量子效率(量子產(chǎn)率)的溫度相關(guān)測量
通過根據(jù)應用構(gòu)建光學系統(tǒng),可以支持各種樣品。
該探測器還可用于總光通量測量和光分布測量
檢測器可以改變到另一個波長范圍
兼容紫外至近紅外寬帶(300 至 1600 nm)規(guī)格