產(chǎn)品信息
特點
● 全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測
● 硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計
● 作為專業(yè)膜厚測定廠商,提供多種支援
● 實現(xiàn)高精度測量(已取得專利)
● 實現(xiàn)高速測量(500萬點以上/分)
產(chǎn)品規(guī)格
測量范圍 | 0.1~300 μm |
測量寬度 | 250 mm |
測量間隔 | 1 ms~ |
設(shè)備尺寸(W×D×H) | 459×609×927 mm |
重量 | 60 kg |
功耗 | AC100 V±10% 125 VA |
測量例
250mm寬的薄膜案例