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3/27
對(duì)于半導(dǎo)體前工序的多種需求 大塚膜厚儀的特點(diǎn)和作用
● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對(duì)反射率 的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。
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2/26
光波動(dòng)場三次元顯微鏡MINUK的介紹
大塚電子MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。
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2/24
晶圓和漿料靜電相互作用的評(píng)估與半導(dǎo)體工藝技術(shù)簡介
大塚電子（蘇州）有限公司產(chǎn)品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等
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2025-03
對(duì)于半導(dǎo)體前工序的多種需求 大塚膜厚儀的特點(diǎn)和作用
● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對(duì)反射率 的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。
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2025-02
光波動(dòng)場三次元顯微鏡MINUK的介紹
大塚電子MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。
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2025-02
晶圓和漿料靜電相互作用的評(píng)估與半導(dǎo)體工藝技術(shù)簡介
大塚電子（蘇州）有限公司產(chǎn)品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等
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2025-01
AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹
VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量、LCoS液晶盒盒厚檢測Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評(píng)估、和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)
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2024-12
DLS測量手法及技巧介紹（2024/12/18）
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。
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2024-10
平板狀·薄膜狀樣品的ZETA 電位測量與應(yīng)用的介紹（2024/11/27）
大塚電子的 Zeta 電位測量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過這樣的測量可以評(píng)價(jià)平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會(huì)將介紹其應(yīng)用。
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2024-09
納米粒度儀的基本操作&故障排除-蘇州線上講習(xí)會(huì)（2024-10-23）
無法測試出預(yù)想的結(jié)果，測試數(shù)據(jù)波動(dòng)這么大？是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)？運(yùn)用方法不對(duì)？ 還是測試條件設(shè)置有誤？如果您也有同樣的困惑，請記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會(huì)。
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2024-05
晶圓和研磨液靜電相互作用的評(píng)價(jià)方法和半導(dǎo)體制程技術(shù)介紹（2024-07-24）
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...
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2024-04
偏光片相位差·吸收軸測試原理及應(yīng)用案例-蘇州線上講習(xí)會(huì)（2024-5-22）
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...
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2024-04
納米粒度和ZETA電位設(shè)備在生物醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用(2024-04-24 )
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...
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2024-01
膜厚度測量(反射分光)的原理和應(yīng)用介紹-2024-2-28
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...
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2023-11
RETS測試原理&應(yīng)用-蘇州線上講習(xí)會(huì)（2023-12-6）
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...
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2023-11
平板ZETA電位測量-蘇州線上講習(xí)會(huì)（2023-11-22）
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...
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2023-08
9月 WEBINAR(網(wǎng)絡(luò)研討會(huì))-大塚電子網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)-膜厚測量應(yīng)用
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2023-08
9月 Webinar(網(wǎng)絡(luò)研討會(huì))-大塚電子網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)-粒徑應(yīng)用篇
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...
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2022-09
Inline分光計(jì)測儀器 -為提升品質(zhì)做出貢獻(xiàn)
平板顯示器、包裝用薄膜、光學(xué)薄膜等領(lǐng)域出現(xiàn)了各種各樣的產(chǎn)品，特別是在這些產(chǎn)品中，光學(xué)特性成為最重要的特性之一.推薦大塚電子-Inline分光計(jì)測儀器。...
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2022-08
大塚電子（蘇州）有限公司將于2022年9月7-9日參與CIOE中國光博會(huì)
大塚電子（蘇州）有限公司將參加2022年CIOE中國光博會(huì)，展出位置：13號(hào)館13E21，將展出的產(chǎn)品有：OPTM 顯微分光膜厚儀、ELSZ 粒徑、界達(dá)電位測試儀、MCPD，歡迎您前來免費(fèi)參觀。...
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2021-09
卷對(duì)卷(Roll to Roll)高速在線膜厚監(jiān)控
在各種高分子領(lǐng)域中，卷對(duì)卷的膜層涂布是其中一段生產(chǎn)過程，在監(jiān)控膜厚時(shí)為了保持商品的完整性，無法以接觸式方法量測。...
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2021-08
大塚電子即將亮相深圳國際納米材料及技術(shù)展覽會(huì)
展期：2021年9月9~11日 展館：深圳國際會(huì)展中心（新館） 地址：深圳市寶安區(qū)展城路1號(hào) 展位號(hào)：8號(hào)館8A01C（3號(hào)門） 納米材料行業(yè)解決方案 納米材料包括：納米碳納米材料（石墨烯、富...
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2021-07
Otsuka 大塚電子攜最新實(shí)驗(yàn)室測量設(shè)備亮相ICIF China 2020中國國際化工展覽會(huì)
9月16日到9月18日大塚電子（蘇州）有限公司攜其最新粒度儀設(shè)備nanoSAQLA、ZETA電位核心技術(shù)產(chǎn)品ELSZ-200ZS及量子效率測試系統(tǒng)亮相ICIF China 2020中國國際化工展覽會(huì)作為粒度儀行業(yè)的知名領(lǐng)先...
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