● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數k、絕對反射率 的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。

大塚電子MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。

大塚電子（蘇州）有限公司產品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等

VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量、LCoS液晶盒盒厚檢測Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評估、和上述關聯的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)

使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測量設備或對此有興趣的人。

大塚電子的 Zeta 電位測量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過這樣的測量可以評價平板狀樣品的表面改質狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會將介紹其應用。

無法測試出預想的結果，測試數據波動這么大？是設置環(huán)境的不當？運用方法不對？ 還是測試條件設置有誤？如果您也有同樣的困惑，請記得務必參加我司的網絡學習會。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

平板顯示器、包裝用薄膜、光學薄膜等領域出現了各種各樣的產品，特別是在這些產品中，光學特性成為最重要的特性之一.推薦大塚電子-Inline分光計測儀器。...

大塚電子（蘇州）有限公司將參加2022年CIOE中國光博會，展出位置：13號館13E21，將展出的產品有：OPTM 顯微分光膜厚儀、ELSZ 粒徑、界達電位測試儀、MCPD，歡迎您前來免費參觀。...

在各種高分子領域中，卷對卷的膜層涂布是其中一段生產過程，在監(jiān)控膜厚時為了保持商品的完整性，無法以接觸式方法量測。...

展期：2021年9月9~11日 展館：深圳國際會展中心（新館） 地址：深圳市寶安區(qū)展城路1號 展位號：8號館8A01C（3號門） 納米材料行業(yè)解決方案 納米材料包括：納米碳納米材料（石墨烯、富...

9月16日到9月18日大塚電子（蘇州）有限公司攜其最新粒度儀設備nanoSAQLA、ZETA電位核心技術產品ELSZ-200ZS及量子效率測試系統(tǒng)亮相ICIF China 2020中國國際化工展覽會作為粒度儀行業(yè)的知名領先...