信息摘要：

大塚電子的 Zeta 電位測(cè)量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測(cè)量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測(cè)量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過(guò)這樣的測(cè)量可以評(píng)價(jià)平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會(huì)將介紹其應(yīng)用。