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膜厚設備介紹（smart膜厚儀）

應用領域：光學膜、接著劑、硬化涂層、半導體光刻膠、食品用薄膜、醫(yī)療用薄膜等。

對于半導體前工序的多種需求大塚膜厚儀的特點和作用

● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。

光波動場三次元顯微鏡MINUK的介紹

大塚電子MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。

Otsuka 大塚電子攜最新實驗室測量設備亮相ICIF China 2020中國國際化工展覽會

9月16日到9月18日大塚電子（蘇州）有限公司攜其最新粒度儀設備nanoSAQLA、ZETA電位核心技術產(chǎn)品ELSZ-200ZS及量子效率測試系統(tǒng)亮相ICIF China 2020中國國際化工展覽會作為粒度儀行業(yè)的知名領先...

大塚電子與您相約第22屆高交會！

大塚電子（蘇州）有限公司誠邀您蒞臨展位參觀、洽談展位號：3號館-3D11 2020.11.11-15 深圳會展中心(福田)...

大塚電子參加第十七屆上海國際膠粘帶保護膜及功能膜展覽會

大塚電子參加第十七屆上海國際膠粘帶保護膜及功能膜展覽會...

【大塚電子新產(chǎn)品】線掃描膜厚儀實現(xiàn)薄膜的線掃描膜厚測量

近年來工作方式改革和新型冠狀病毒感染癥（COVID-19）使得外出受到限制，居家辦公、電話辦公、Web會議普及等，工作方式發(fā)生了很大的變化。筆記本電腦、平板電腦為代表的顯示器件成...

大塚電子參加第二十二屆中國國際高新技術成果交易會

大塚電子(蘇州)有限公司誠邀您蒞臨展位參觀、洽談展位號:3號館-3D11 2020.11.11-15 深圳會展中心(福田)...

Webinar 【粒徑與ZETA電位的測量原理和應用介紹】

利用光技術開發(fā)出各種分析測量裝置的大塚電子，給客戶提供尖端測量技術支持。以測量技術、應用示例等重點介紹為主，舉辦Webinar.邀請你的參加，并參與一起討論。